IC测试探针

Single active, 2.57 mm, IC Test Probes, 0.52 mm Diameter, 1A
产品料号
DE4-052DF17-01F0
内部结构
single active
长度
2.57 mm
针管外径
0.52 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 2.85 mm, IC Test Probes, 0.56 mm Diameter, 1A
产品料号
DE4-056EF20-01F0
内部结构
single active
长度
2.85 mm
针管外径
0.56 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A
产品料号
PE3-031DF21-02F0
内部结构
single active
长度
3.30 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A
产品料号
PE3-031DF21-03F0
内部结构
single active
长度
3.30 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, 1A
产品料号
PE3-031DF22-02A0
内部结构
single active
长度
3.30 mm
针管外径
0.31 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.3 mm, IC Test Probes, 0.26 mm Diameter, 1A
产品料号
PE4-026DF24-01F0
内部结构
single active
长度
3.30 mm
针管外径
0.26 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.35 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, 1A
产品料号
PE4-035DF24-01F0
内部结构
single active
长度
3.35 mm
针管外径
0.35 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Single active, 3.2 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, 1A
产品料号
PE4-035DF24-03F0
内部结构
single active
长度
3.20 mm
针管外径
0.35 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
single active, 3 mm, IC Test Probes, 0.56 mm Diameter, 1A
产品料号
PE4-056DF20-03F0
内部结构
single active
长度
3.00 mm
针管外径
0.56 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.2 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-020BE40-01A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.20 mm
测试探针头型
Conical 60º(B)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.28 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-028DF40-01B0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.28 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.28 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-028DD40-01A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.28 mm
测试探针头型
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.28 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-028BE40-04A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.28 mm
测试探针头型
Conical 60º(B)
板端测试头型
Conical 90º,120º(E)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 4.6 mm, IC Test Probes, 0.26 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-026EF31-01A0
内部结构
double active
长度
4.60 mm
针管外径
0.26 mm
测试探针头型
Conical 90º,120º(E)
板端测试头型
4 Points Crown(F)
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD
Double active, 5.7 mm, IC Test Probes, 0.26 mm Diameter, 1A
产品料号
DE1-026DF40-02A0
内部结构
double active
长度
5.70 mm
针管外径
0.26 mm
测试探针头型
4 Points Crown(F)
板端测试头型
额定电流
1
交货时间
21
2D绘图
3D CAD