Test socket Expanded graphic
테스트 솔루션
소개
반도체 테스트에 대한 당사의 역량을 확인해 보세요.
소개
IC Test Spring Contact Probes
IC 테스트 프로브
80가지 디자인
당사의 IC 테스트 프로브는 0.12mm 이하의 pitch에 적합합니다.
소개
상점
In-Circuit Test Probes Demonstration Graphic
ICT 테스트 프로브
70가지 디자인
우리의 회로 내 테스트 프로브는 모든 종류의 PCB 테스트에 사용됩니다. 맞춤형 부품뿐만 아니라 표준 포트폴리오를 제공합니다.
소개
상점
General Final Test Socket Render Graphic
일반 파이널 테스트
CCP는 맞춤형 테스트 소켓을 설계하고 제조합니다.
소개
Wafer Level Test Socket Render Graphic
웨이퍼 레벨 테스트
최소 피치 0.12mm
당사는 당신만의 개별적인 WLCSP 디자인을 개발합니다.
소개
Burn-In Test Socket Render Graphic
번인 테스트
≤ 180°C
맞춤 설계된 번인 테스트 소켓 내 온도는 최대 180°C입니다.
소개
High Frequency Test Solutions Render Graphic
고주파(RF) 테스트
≤ 77 GHz
CCP는 고주파 테스트 프로브, 동축 프로브 소켓 및 가압 전도성 고무 소켓을 설계합니다.
소개
High Current Testing Solution Render Graphic
배터리 프로브
30가지 디자인
CCP는 다양한 고전류 배터리 테스트 프로브를 제공합니다.
소개
Memory Socket and Testing Solution
메모리 테스트
DDR SDRAM, 플래시 등
RAM, 플래시 및 기타 여러 메모리 칩을 위한 표준 및 사용자 지정 테스트 솔루션입니다.
소개
High Voltage IC Test Probes Render Graphic
고전류 IC 테스트
> 5 Amps
당사의 특허받은 프로브 디자인은 최대 5A의 매우 높은 전류를 허용합니다.
소개
FPC Test Socket Render Graphic
미세 Pitch 커넥터 테스트
≤ 0.3mm
당사 세라믹/알루미늄 소켓의 수명은 30,000 사이클입니다. (테스트에 따라 수명이 달라지므로 최소 보증 수명을 뜻합니다.)
소개
Kelvin Contact Test Pins
켈빈 접촉 테스트
0.07 ~ 0.1mm
저저항 테스트를 위해 다양한 팁 유형을 제공합니다.
소개
ATE Pogo Test Socket Render Grphic
ATE Connecting 솔루션
포고 타워 & 어댑터
고주파수 기능을 갖춘 맞춤형 포고 타워입니다.
소개
Panel Test Spring Contact Pin
패널 테스트 솔루션
최소 피치 0.45mm
CCP는 패널 테스트를 위해 특별히 둥근 핀과 테스트 모듈을 제공합니다.
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CCP는 다양한 테스트 소켓과 프로브를 제공합니다. 특정 요구사항이나 완전히 새로운 요구사항이 있습니까?

당사 엔지니어들은 당신의 문의를 기대하고 있습니다!

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