전자 현미경

  2. 전자 현미경
  • Cold field emission (CFE) gun optimized for low-voltage, high-resolution imaging with low aberration
    (Regulus8220/8230/8240: 0.7 nm/1 kV; Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)
  • Maximum magnification doubled from 1 million times to 2 million times*2
  • User-support functions to ensure high performance
Hitachi S-4800 SEM_Electron Microscop
Hitachi S-4800 SEM
전자현미경은 다른 물질적 특성을 연구하기 위해 개발 단계에서 주로 사용됩니다.
Mechanical Performance