CCP中探針提供全方位的測試解決方案,0.7mm極小間距IC探針、老化測試、晶圓級封裝測試、一般終端測試、PCB測試探針等多樣方案,富士康、Intel、Skyworks 和 SPIL 等半導體產業領導者皆是我們服務的客戶。
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測試過程中,探針尖端會逐漸積聚焊錫粉塵,從而導致電導率降低。CCP中探針的專利鏡面處理技術使探針頭光滑如鏡子表面,讓粉塵無法沾黏。
我們擁有完整的生產技術與流程,所有探針和治具均由CCP設計和製造,並經過嚴格的全面質量檢查,以保證能滿足您期望的高質量標準。
CCP中探針每年將超過10%的收益投入研究開發,確保我們的產品始終處於技術發展與時代最前端。
我們的研發團隊包含眾多在半導體測試產業擁有30多年經驗的資深工程師,更多的努力付出,都是為了找到適合您的解決方案。
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