CCP中探针提供全方位的测试解决方案,0.7mm极小间距IC探针、老化测试、晶圆级封装测试、一般终端测试、PCB测试探针等多样方案,富士康、Intel、Skyworks 和SPIL 等半导体产业领导者皆是我们服务的客户。
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测试过程中,探针尖端会逐渐积聚焊锡粉尘,从而导致电导率降低。 CCP中探针的专利镜面处理技术使探针头光滑如镜子表面,让粉尘无法沾黏
我们拥有完整的生产技术与流程,所有探针和治具均由CCP设计和製造,并经过严格的全面质量检查,以保证能满足您期望的高质量标准。
CCP中探针每年将超过10%的收益投入研究开发,确保我们的产品始终处于技术发展与时代最前端。
我们的研发团队包含众多在半导体测试产业拥有30多年经验的资深工程师,更多的努力付出,都是为了找到适合您的解决方案。
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